Flukiger R., Silva E., Spina T., Loria R., Anzellini S., Meneghini C., Irifune T., Schiesaro I., Torchio R.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, high pressure processing, X-ray irradiation, microstructure, measurement technique
Liu W., Zhang Y., Chen C., Zhang J., Chang J., Chen B., Zhang Z., Ding Y., Cai Y., Hiraoka N., Ishii H., Gu G., Cai Z., Hong X., Fluerasu A., Ku C., Brewe D., Heald S., Ku-Ding T., Irifune T., Mao H.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.